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DGIST, 신경 손상 걱정 없는 ‘스마트 밀착 전극’ 개발

작성일 25-02-20

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DGIST 김소희 교수 연구팀이 신경을 손상시키지 않으면서도 안정적으로 감쌀 수 있는 ‘소프트 구동 기반 커프 전극’을 세계 최초로 개발했다.

이번 전극은 기존 방식과 달리 부드럽게 휘어져 신경을 감싸는 3차원 구조를 가지며, 전극과 신경의 밀착력을 높이면서도 압력을 최소화해 신경 손상을 방지할 수 있다.

연구팀은 이 전극을 실제 말초신경에 적용해 실험을 진행한 결과, 신경 기능을 유지하면서도 정확한 신경 신호를 측정하고 원하는 신경만 선택적으로 자극할 수 있음을 확인했다.

특히, 기존 커프 전극이 신경을 압박해 혈류 감소나 손상을 초래할 수 있었던 한계를 극복했다는 점에서 주목받고 있다.

김소희 교수는 “이번 연구를 통해 장기간 신경 신호를 모니터링하거나 최소 전류 자극이 가능해졌다”며 “체내 이식형 전자약 등 다양한 바이오전자소자로 활용될 수 있을 것”이라고 밝혔다.

한편 이번 연구는 MIT 문현민 박사, 한국뇌연구원 추남선 연구원, 경북대병원 박기수 교수 등이 참여했으며, 최상위 국제학술지 ‘어드밴스드 머티리얼즈(Advanced Materials)’의 후면 표지 논문으로 선정됐다.
조영준 기자(jebo777@hanmail.net)

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